le 2ème Workshop « INITIATION AUX LOGICIELS D’ANALYSE DES MATERIAUX PAR DIFFRACTION DES
Conférenciers italien
L’émergence des techniques de mesure en diffraction des rayons X, des électrons et des neutrons, de plus en plus élaborées, conjuguée à la puissance des techniques de calcul et des ordinateurs et à l’existence de méthodes mathématico-physiques développées permettent l’analyse des matériaux et la détermination de nombreuses caractéristiques structurales et microstructurales de façon très poussée.Conférenciers italien :*Pr. Matteo Leoni, University Trento, Italy
*Dr. Saliou Diouf, University Trento, Italy,